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在選擇TEKHNE露點儀時,TK-100和TE-660是兩個核心系列,分別針對不同的工業(yè)測量需求。以下是兩者的關鍵對比及選型建議:
對比維度 | TK-100系列 | TE-660系列 |
---|---|---|
測量范圍 | -100°C ~ +20°C dp | -60°C ~ +20°C dp |
傳感器技術 | 陶瓷傳感器(xin技術) | 聚合物薄膜傳感器 |
核心優(yōu)勢 | 超低露點測量(<-50°Cdp) | 快速響應、一體化設計 |
典型型號 | TK-100 NK-I(帶干燥室) | TE-660 NE(內(nèi)置采樣系統(tǒng)) |
適用場景 | 半導體、空分裝置、超高純氣體 | 壓縮空氣、SF6檢測、工業(yè)流程監(jiān)測 |
TK-100:
覆蓋-100°Cdp的干燥環(huán)境,適合超高純氣體(如半導體制造用氮氣)。
精度±2°Cdp,但在-50°Cdp以下表現(xiàn)更穩(wěn)定(干燥室系統(tǒng)提升響應速度)。
TE-660:
下限為-60°Cdp,適合常規(guī)工業(yè)氣體(如壓縮空氣、SF6)。
相同精度(±2°Cdp),但在-20°Cdp以上響應更快(聚合物傳感器特性)。
TK-100:
陶瓷傳感器耐長期漂移(<0.5°Cdp/年),但初始響應較慢(需干燥室預熱)。
TE-660:
聚合物傳感器在15秒內(nèi)可響應露點變化,適合快速巡檢。
TK-100 NK-I型:
超輕(0.8kg),AA電池供電(15小時續(xù)航),適合野外或無電源環(huán)境。
TE-660 NE型:
內(nèi)置過濾器、流量計,無需外接預處理,但重量稍大(3.5kg)。
TE-660支持4-20mA/Modbus輸出,可集成到控制系統(tǒng);TK-100專注便攜測量,無信號輸出功能。
需要測量-80°Cdp以下的超低露點(如半導體光刻氣體)。
長期穩(wěn)定性優(yōu)先(如空分裝置連續(xù)監(jiān)測)。
場景需防爆(可選TK-100TR-EX型號)。
測量-60°Cdp以上(如壓縮空氣、塑料干燥機)。
要求快速響應(如SF6開關水分檢測)。
需要一體化設計,減少外接配件。
TK-100初始成本較高,但維護簡單(年換干燥劑);
TE-660需定期更換過濾器(每6個月),但操作更便捷。
干燥選TK-100,常規(guī)工業(yè)選TE-660。
若預算有限且無需超低露點,TE-660HD分體式型號更經(jīng)濟。